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Análise mineralógica das frações finas do solo por difratometria de raios-X: revisão e atualização da metodologia e critérios usados na Embrapa Solos. Infoteca-e
CALDERANO, S. B.; DUARTE, M. N.; GREGORIS, G..
bitstream/CNPS-2010/14631/1/comtec53-2009.pdf
Tipo: Comunicado Técnico (INFOTECA-E) Palavras-chave: Análise mineralógica; Difratometria; Raio-X.
Ano: 2009 URL: http://www.infoteca.cnptia.embrapa.br/infoteca/handle/doc/660961
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Avaliação da macroporosidade e da densidade de partículas do solo através da microtomografia de raios-x Rev. Bras. Ciênc. Solo
Macedo,A.; Crestana,S..
A Ciência do Solo procura compreender e modelar os fenômenos ocorridos no solo, principalmente na zona não saturada. Como o entendimento de muitos desses fenômenos exige determinações em escalas que permitam incorporar aos modelos a variabilidade de poros e agregados, desenvolveu-se, na Embrapa Instrumentação Agropecuária, um tomógrafo de raios-X, de resolução micrométrica, com o objetivo de se obterem imagens, de forma não-destrutiva, de amostras de solo, com resolução espacial igual ou inferior a 100 μm. Foi possível projetar e construir um equipamento, de alta resolução, com baixo custo, comparativamente aos equipamentos comerciais disponíveis, cujos preços são proibitivos para aplicações em solo. Obtiveram-se imagens de amostras de solos com estrutura...
Tipo: Info:eu-repo/semantics/article Palavras-chave: Tomografia; Microtomografia; Solo; Raio-X; Agricultura; Meios porosos.
Ano: 1999 URL: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0100-06831999000400002
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Caracterização estrutural e avaliação da eficiência de filtragem de velas cerâmicas porosas modificadas. Infoteca-e
ALES, C. R.; ASSIS, O. B. G..
Neste trabalho são apresentados os resultados parciais da alteração de velas comerciais pelo revestimento de SiO2 seguindo de tratamentos de hidrofilização e do depósito de enzimas. Caracteriza-se as superfícies filtrantes por técnicas microscópica de varredura eletrônica (MEV), e espectroscópicas de energia dispersiva de raios-X (EDX) e infravermelho com transformada de Fourier (FTIR) bem como, testes para avaliação da eficiência do sistema de filtragem em fluxo contínuo.
Tipo: Comunicado Técnico (INFOTECA-E) Palavras-chave: Microscopia de Varredura Eletrônica; MEV; Raio-X; EDX; FTIR.
Ano: 1999 URL: http://www.infoteca.cnptia.embrapa.br/infoteca/handle/doc/29481
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